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  • 2019

    7-12

    如何用上位機(jī)控制軟件KickStart程控2450觸摸屏數(shù)字源表問題:如何用上位機(jī)控制軟件KickStart程控2450觸摸屏數(shù)字源表回答:在使用2450的軟件KickStart前,請先確保2450已經(jīng)配置成TSP的語言格式,不然儀器將不被軟件識別。(此步切勿跳過!很重要!)如下圖,System大類中,打開Settings菜單,在CommandSet里選擇TSP。打開上位機(jī)端KickStart軟件(支持USB、Ethernet、GPIB接口,用GPIB通信時(shí),需額外安裝GPI...

  • 2019

    7-11

    吉時(shí)利2410SourceMeterSMU儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)問題:吉時(shí)利2410SourceMeterSMU儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)回答:4200系統(tǒng)測量時(shí)可以直接進(jìn)行處理使得電荷放電至地點(diǎn)。單臺源表做類似測量時(shí),先加載0V電壓源測量I,將線路導(dǎo)通放電;延遲一段時(shí)間后,在加載需要的電壓進(jìn)行正常的測量。此常見問題適用于:ProductSeries:KeithleySMU2400圖形系列SourceMeter,...

  • 2019

    7-11

    吉時(shí)利2400、2600型SourceMeterSMU儀器:如何去掉熱電動勢的影響問題:吉時(shí)利2400、2600型SourceMeterSMU儀器:如何去掉熱電動勢的影響回答:電流相反法:使用極性相反的兩種電流進(jìn)行兩次測試,計(jì)算而得的阻值可以抵消熱電動勢的影響。如圖6所示,其中:I為激勵電流VM+和VM-為萬用表測得的電壓VEMF為熱電動勢R為被測電阻根據(jù)圖6的電路圖我們可以列出兩個(gè)方程:VM+=VEMF+I*R;VM-=VEMF-I*R,計(jì)算可得不含熱電動勢的VM=(VM+...

  • 2019

    7-11

    吉時(shí)利2400SourceMeterSMU儀器,緊密耦合的精密源和測量:LabTracer軟件使用說明問題:吉時(shí)利2400SourceMeterSMU儀器,緊密耦合的精密源和測量:LabTracer軟件使用說明回答:關(guān)于LabTracer軟件的使用問題,請嘗試如下步驟:該軟件是基于NILabVIEW開發(fā)的,因此需要安裝NIVISARUN-TIMEENGINE,下載鏈接都如上方使用GPIB(IEEE-488)卡通信,需要設(shè)置GPIB地址,方法如下:手動查找2400當(dāng)前的GPIB...

  • 2019

    7-11

    差分探頭測試接地的目的問題:差分探頭測試接地的目的回答:高頻差分探頭都含有地線選件。高頻信號測試時(shí),共模阻抗遠(yuǎn)大于差模阻抗時(shí),地線的作用并不明顯。進(jìn)行差分測量時(shí),無需接入地線。但是某些特殊應(yīng)用中,為了確保測試精度,我們需要接入地線。特別是例如使用電池供電,被測電路*與地隔離的情況,測試時(shí)必須接入地線。未接入地線測試的波形接入地線測試的波形此常見問題適用于:ProductSeries:高壓差分探頭,低壓差分探頭Product:P5200A,P5201,P5202A,P520,P...

  • 2019

    7-11

    2460數(shù)字源表®源測量單元(SMU)儀器,如何使用Kickstart加負(fù)偏壓?問題:2460數(shù)字源表®源測量單元(SMU)儀器,如何使用Kickstart加負(fù)偏壓?回答:2460如何使用Kickstart加負(fù)偏壓?Kickstart正確識別并連接上2460后,在SourceMeasure界面,設(shè)置SourceMode為VoltageListSweep。電壓設(shè)置有兩種方式設(shè)置:直接在list中輸入電壓值;當(dāng)需要sweep的電壓點(diǎn)數(shù)較多時(shí),可使用ImportFi...

  • 2019

    7-8

    HIOKI(日置)全新發(fā)售脈沖線圈測試儀ST4030HIOKI(日置)將全新發(fā)售脈沖線圈測試儀ST4030,該款產(chǎn)品能檢查馬達(dá)線圈的合格情況。隨著ST4030的推出,將進(jìn)一步豐富在馬達(dá)線圈生產(chǎn)線上與電阻計(jì)/耐壓測試儀等配合時(shí)所需的檢查用測試儀。ST4030是一種將響應(yīng)波形※1數(shù)值化的新方法,能夠檢測面積比較法無法解決的被測物在波形位移工況下的層間短路(絕緣缺陷)※2。此外,它不僅具有200MHz采樣的高精度波形檢測性能和12位高分辨率,還配有能檢測偽短路的放電檢測功能※3ST...

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